- Код статьи
- S30346088S0023119325040061-1
- DOI
- 10.7868/S3034608825040061
- Тип публикации
- Статья
- Статус публикации
- Опубликовано
- Авторы
- Том/ Выпуск
- Том 59 / Номер выпуска 4
- Страницы
- 229-234
- Аннотация
- Исследовано сшивание полиэтилена трубных сортов под действием 900 кэВ электронов при поглощенной дозе от 50 до 400 кГр в присутствии антиоксидантов и сшивающего агента. Степень сшивания полиэтилена измерялась по содержанию гель-фракции, определяемой путем его экстракции в ксилоле. Показано, что во всех случаях степень сшивания 60% достигается при дозе около 100 кГр. Стандартную методику определения гель-фракции целесообразно сочетать с визуальным контролем образцов для выявления условий образования чрезмерно легкоплавкого материала. Показано, что неравномерность степени сшивания на уровне ±7% может достигаться при неравномерности дозы до ±50%.
- Ключевые слова
- полиэтилен сшивание электронный пучок неравномерность дозы неравномерность сшивания
- Дата публикации
- 01.04.2025
- Год выхода
- 2025
- Всего подписок
- 0
- Всего просмотров
- 18
Библиография
- 1. Burillo G., Clough R.L., Czvikovszky T., Guven O., Le Moel A., Liu W., Singh A., Yang J., Zaharescu T. // Radiat. Phys. Chem. 2002. V. 64. P. 41.
- 2. Dorigato A. // Adv. Ind. Eng. Polym. Res. 2021. V. 4. P. 53.
- 3. Geyer R., Jambeck J.R., Law K.L. // Sci. Adv. 2017. V. 3. P. e1700782.
- 4. Chmielewski A.G. // Radiat. Phys. Chem., 2023. V. 213. P. 111233.
- 5. Ponomarev A.V., Gohs U., Ratnam C.T., Horak C. // Radiat. Phys. Chem. 2022. V. 201. P. 110397.
- 6. Ponomarev A.V. // High Energy Chem. 2020. V. 54. P. 194.
- 7. Woods R., Pikaev A. // Applied Radiation Chemistry. Radiation Processing. NY: Wiley, 1994.
- 8. Pikaev A.K. // High Energy Chem. 2000. V. 34.
- 9. Ponomarev A.V. // Radiat. Phys. Chem. 2016. V. 118. P. 138.
- 10. Albrecht V., Simon F., Reinsch E., Schünemann R., Gohs U., Kretzschmar B., Peuker U.A. // Recover. Recycl. Technol. Worldw. 2016. V. 2. P. 36.
- 11. Cleland M., Galloway R., Genin F., Lindholm M. // Radiat. Phys. Chem. 2002. V. 63. P. 729.
- 12. Perrin C., Griseri V., Laurent C. // IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul. 2008. V. 15. P. 958.
